KIC RPI monitorozó rendszer
KIC RPI monitorozó rendszer (vákuum) reflow forrasztó kemencékhez
KIC RPI monitorozó rendszer
Written by: NEMES Emma | 2025.03.12.
Bizonyítani tudja az auditornak, hogy minden egyes panel az előírt hőmérsékleten haladt át a reflow folyamat során?
Igazolni tudja, hogy a folyamatos gyártás során mindig a specifikációs határokon belül volt az adott panel hőprofilja?
Ha nem, akkor az Ön gyártásának monitorozó rendszerre van szüksége!
A KIC Reflow Process Inspection (RPI) rendszere garantálja, hogy minden legyártott nyomtatott áramköri laphoz megadja az arra jellemző hőprofilt, így egy úgy nevezett virtuális hőprofilt dedikálunk minden egyes panelhez. A rendszer 2×15 db hőelemet tartalmaz, melyeket hőálló sodronyokban rögzítünk a panel síkjához közel. A 30 db hőelem egyenletesen elosztva a kemence hosszában egy valóságos hőtérképet állít fel az adott panelre vonatkozóan.
A rendszer használata során az operátor gyors és pontos visszajelzést kap a beállított hőprofilhoz képesti devianciákról. A toleranciasávon kívül eső mérési eredmények alapján a rendszer le tudja állítani a további panelek kemencébe való juttatását, megakadályozva ezzel az esetleges meghibásodásokat.
A monitorozó rendszer további előnye, hogy a részletes hőtérkép alapján jelzést tud adni olyan potenciális kemence meghibásodási lehetőségekről (hőelem, befúvó motor nem megfelelő működése), amelyeket a kemence még nem detektál. Ebből következően a rendszer másodlagos funkcionalitásként segíti a megelőző karbantartás hatékony megvalósítását.
Az RPI rendszer beépített hő- és szállítószalag-sebesség érzékelőkkel rendelkezik, mely automatikusan méri és megjeleníti a következő információkat:
-
NyÁK hőprofilja
-
A profil illeszkedése a folyamatablakhoz
-
Folyamatosan megjelenített gyártási adatok:
-
Legyártott panelek száma
-
Termék neve és azonosítója
-
Gyártás dátuma és időbélyege
-
Kemence neve
-
Fontos: Az RPI működéséhez szükség van egy KIC hőprofilmérő eszközre!

Overview
-
Panel szintű visszakövethetőséget biztosít – reflow hőprofil adatokkal
-
SPC elemzést végez valós időben – felső/alsó szabályozási határokkal (UCL/LCL), Cpk értékekkel és vezérlési diagramokkal
-
SPC és Cpk diagramok
-
Hibastatisztikák és folyamatkihozatali adatok
-
Pareto-diagram a specifikáción kívüli eseményekrő

